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產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱/型號 產(chǎn)品描述
  • PI-300/WPI-300偏振相機(jī)

    更新時(shí)間:2025-08-04

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    PI/WPI偏振相機(jī)能夠獲得實(shí)時(shí)的偏振信息,作為一個(gè)正常的圖像,并在高分辨率。$n它們被應(yīng)用在許多領(lǐng)域,包括利用偏振特征識別暗物體,激光光束的實(shí)時(shí)偏振監(jiān)測等。$n除了PI功能可以記錄線偏振度(DOLP)和主軸方向角,WPI還可以全面記錄Stokes參數(shù)和偏振度(DOP),這在部分偏振情況下是必要的。
  • PA300玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-08-04

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    玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速而又的測量3D玻璃,晶體等產(chǎn)品的雙折射效應(yīng),得出的相位差數(shù)值,從而量化出產(chǎn)品應(yīng)力數(shù)值,在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。廣泛應(yīng)用于手機(jī)3D玻璃的研發(fā),生產(chǎn),質(zhì)量測試中。
  • WPA-micro顯微鏡型相位差測量儀

    更新時(shí)間:2025-08-04

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    顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro操作簡單,測量速度可以快到3秒,?采用CCD Camera,視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。?測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。?具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。?維護(hù)簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
  • WPA-200-L應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-08-04

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    應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,Z適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
  • PA系列玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2025-08-04

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    玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學(xué)玻璃是各向同性的,但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不同,或者退火爐內(nèi)各處溫度不等都會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力。光學(xué)玻璃內(nèi)應(yīng)力的存在,破壞了各向同性,產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,即內(nèi)部應(yīng)力的分布現(xiàn)象,現(xiàn)在利用測量雙折射現(xiàn)象來改進(jìn)光學(xué)玻璃的生產(chǎn)工藝,以及用來對光學(xué)玻璃的質(zhì)量控制,成為世界光學(xué)玻璃廠商的手段。
  • PA200;PA200-L雙折射儀-應(yīng)用3D玻璃

    更新時(shí)間:2025-08-04

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    雙折射儀對玻璃等低相位差的雙折射分布測量,在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。
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